Факультет прикладной математики — процессов управления
Факультет прикладной математики — процессов управления

Трофимов Василий Валерьевич

Должность
старший преподаватель
Кафедра
🦾
Моделирования электромеханических и компьютерных систем
Статус работника
‣

Образование

2004 - 2008
СПбГУ, факультет ПМ-ПУ, кафедра МЭКС (научный руководитель Жуков Д.В.), направление "прикладные математика и физика".
2008 - 2010
СПбГУ, факультет ПМ-ПУ, кафедра МЭКС (научный руководитель Жуков Д.В.), Магистратура по направлению прикладные математика и физка (програма: математическая физика и математическое моделирование),
2010 - н.в.
Аспирантура СПбГУ, факультет ПМ-ПУ, кафедра МЭКС (научный руководитель Егоров Н.В.)
‣

Преподавательская деятельность

Практические занятия по курсу общей физики.

‣

Области научных интересов

Экспериментальная физика, полевые эмиссионные системы, электронная голография.

‣

Некоторые научные публикации

  1. Гилева А. Ю., Антонова Л. И., Трофимов В. В. Исследование характеристик эмиссионного тока при изменении расстояния между автокатодом и анадом. // Процессы управления и устойчивость. Труды международной научной конференции.,. 2016. T. 3(19), — № 1. С. 159-162.
  2. Fursey, G.N., Egorov, N.V., Zakirov, I.I., Yafyasov, A.M., Antonova, L.I., Trofimov, V.V. Peculiarities of the total energy distribution of field emission electrons from graphene-like structures // Journal of Communications Technology and Electronics. 2016. Vol. 61, № 1. P. 72-75.
  3. Fursey G., Egorov N., Zakirov I., Trofimov V. Experimental study behaviour of low threshold field emission from graphene-like structures // Book of abstracts. The 14-th international Baltic Conference on atomic layer deposition, 2-4 oct, 2016, St. Petersburg,Russia. 2016. P. 28.
  4. K. A. Nikiforov, V. V. Trofimov, N. V. Egorov Field emission spectroscopy of SiC // Journal of Physics: Conference Series. 2016. Vol. 741, — № 1.
  5. Никифоров К.А., Трофимов В.В., Егоров Н.В. Энергетический анализ и натурное моделирование автоэлектронной эмиссии из карбида кремния // Устойчивость и процессы управления. Материалы III международной конференции, посвященной 85-летию со дня рождения профессора, чл.-корр. РАН В.И. Зубова. 2015. С. 197-198.
  6. Карпов А.Г., Клемешев В.А., Трофимов В.В. Математические основы методов обработки информации диэлектрической спектроскопии тонких пленок // ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 10: ПРИКЛАДНАЯ МАТЕМАТИКА, ИНФОРМАТИКА, ПРОЦЕССЫ УПРАВЛЕНИЯ. 2015. № 4. С. 13-26.
  7. Georgiy N. Fursey, Nikolay V.Egorov, Vasily V.Trofimov, Polyakov, M.A., Zakirov, I.I., Fomin, D.N., Antonova, L.I. Fetures of Full Enegy Distribution from Graphen Like Strucures by the Retarding Potenthional Method // // IEEE 10th International Vacuum Electron Sources Conference, IVESC 2014,. 2014. P. 84-85.
  8. Егоров Н.В., Трофимов В.В., Антонов С.Р., Федоров А.Г., Антонова Л.И. ИССЛЕДОВАНИЕ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ГОЛОГРАФИЧЕСКОГО МИКРОСКОПА // ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ. 2014. № 8. С. 14-17.
  9. Karpov, A.G., Klemeshev, V.A., Trofimov, V.V. Mathematical foundations of information processing methods dielectric spectroscopy of thin films // IEEE 10th International Vacuum Electron Sources Conference, IVESC 2014. 2014.
  10. Fursey, G.N.; Polyakov, M.A.; Zakirov, I.I.; Fomin, D.N.; Egorov, N.V.; Antonova, L.I.; Trofimov, V.V. Features of full energy distribution from graphene like structures by the retarding potential method // 10th International Vacuum Electron Sources Conference, IVESC 2014 and 2nd International Conference on Emission Electronics, ICEE 2014. 2014.
  11. Егоров Н.В.,Антонова Л.И.,Трофимов В.В., Федоров А.Г. Патент РФ № 249251 на изобретение голографический электронный микроскоп. // Патент РФ № 2492513. 2013.
  12. Егоров Н.В., Антонова Л.И., Трофимов В.В., Федоров А.Г. Устройство для получения голографической информации в низкоэнергетическом электронном микроскопе. Патент РФ № 117713 // ИЗОБРЕТЕНИЯ. ПОЛЕЗНЫЕ МОДЕЛИ. ОФИЦИАЛЬНЫЙ БЮЛЛЕТЕНЬ ФЕДЕРАЛЬНОЙ СЛУЖБЫ ПО ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ СОБСТВЕННОСТИ, ПАТЕНТАМ И ТОВАРНЫМ ЗНАКАМ. 2012. № 5.
  13. Nikiforov K.A., Antonova L.I., Egorov N.V., Trofimov V.V., Makeev V.V., Ogurtsov O.F. Non-gated field emission array as low-energy electron source: experiment and simulation // RuPAC 2012 Contributions to the Proceedings - 23rd Russian Particle Accelerator Conference. 2012. P. 218-220.
  14. Егоров Н.В., Карпов А.Г., Антонова Л.И., Федоров А.Г., Трофимов В.В., Антонов С.Р. Методика исследования пространственной структуры тонких пленок на наноуровне // ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ. 2011. № 10. С. 83-86.
  15. Egorov, N.V., Karpov, A.G., Antonova, L.I., Fedorov, A.G., Trofimov, V.V., Antonov, S.R. Technique for investigating the spatial structure of thin films at a nanolevel // Journal of Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2011. Vol. 5, — № 5. P. 992-995.
  16. Трофимов В.В., Жуков Д.В. Моделирование перестроенного вольфрамового острия // Устойчивость и процессы управления. Всероссийская конференция, посвященная 80-тилетию со дня рождения В. И. Зубова. 2010. С. 130.
  17. Трофимов В.В., Бедрина М.Е. Вычисление распределения электронной плотности на поверхности тонких пленок // Устойчивость и процессы управления. Материалы III международной конференции, посвященной 85-летию со дня рождения профессора, чл.-корр. РАН В.И. Зубова. С. 217-218.
  18. Trofimov Vasiliy V., Bedrina Marina E. Calculation of distribution of electron density on surface of thin films // "Stability and Control Processes" in Memory of V.I. Zubov (SCP), 2015 International Conference. P. 208-210.
  19. Nikiforov Konstantin; Trofimov Vasiliy; Egorov Nikolay FIELD EMISSION SPECTROSCOPY OF SILICON CARBIDE: NATURAL MODELLING // 2015 INTERNATIONAL CONFERENCE "STABILITY AND CONTROL PROCESSES" IN MEMORY OF V.I. ZUBOV (SCP). P. 180-182.
  20. Egorov, N.V. , Trofimov, V.V., Antonov, S.R., Fedorov, A.G., Antonova, L.I. Studying the electrophysical parameters of a holographic microscope // Journal of Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. Vol. 8, — № 4. P. 745-747.
  21. Antonov, S.R., Antonova, L.I., Trofimov, V.V. Research of parameters of a low energy electron diffraction // IEEE 10th International Vacuum Electron Sources Conference, IVESC 2014.
  22. Trofimov, V.V., Karpov, A.G., Antonov, S.R. Apparatus for studying the three-dimensional structure of thin films by electron holography // IEEE 10th International Vacuum Electron Sources Conference, IVESC 2014.
  23. Никифоров К. А., Сайфуллин М. Ф., Трофимов В. В. Исследование краевых эффектов по электрическому полю массива автоэлектронных эмиттеров // Процессы управления и устойчивость. T. 1(17),. С. 202-207.
  24. Трофимов В.В. Метод косвенного измерения малых токов в эмиссионных системах // Процессы управления и устойчивость: Труды 41-й международной научной конференции аспирантов и студентов. С. 231-236.
‣

Темы дипломных работ

1. Оптимизация работы голографического микроскопа (Гилева Александра Юрьевна, магистерская диссертация, 2017)

2. Модельная индентификация изображений голографического микроскопа (Гилева Александра Юрьевна, магистерская диссертация, 2019)

©Леонид Романычев